其它配套设备
AOI 检测设备
液晶面板点亮与外观检测系统
标准产能节拍
1200PCS/H
极高效的产线检测吞吐量
综合定位精度
±0.02mm
精准把控微小尺寸公差
缺陷检测标准
0.1-0.5%
极限压低漏检率护航品质
缺陷识别覆盖
30+种
针对画面异常与缺划零漏检
Hardware & Software Architecture
核心检测与算法架构
深度融合 MD-Vision 算法库与工业互联网中枢，为 LCD、OLED、水墨屏等广泛显示领域提供零漏检的检测防御。
检测类型全面覆盖
针对显示行业的不同工序及产品种类皆可进行检测，广泛覆盖 B/L、CELL、FOG、Model 等核心节点，无死角护航产线。
深度学习高识别度
依托成熟的 MD-Vision 算法库，结合传统图像处理与深度学习方法，针对画面异常、缺划等不良实现低对比度下的零漏检。
生产品质全数据化
对检测过程相关数据进行底层采集，自动将缺陷检出分类并生成知识库与分析报表，彻底告别盲盒式品质管理。
MD-Cloud 云端智能
生产数据与 MD-Cloud 工业互联网对接，实现远程调试编程、预测性维护及远程运维，通过设备自学习不断提升良率。
核心特性摘要
01
全面覆盖面板显示行业各类工序测试
02
MD-Vision 算法库
(传统图像 + 深度学习双擎)
03
自动生成缺陷知识库与数据分析报表
04
无缝对接 MD-Cloud 工业互联网平台
AOI检测设备 核心规格参数
漏检率标准
0.1% ~ 0.5%
综合定位精度
±0.02mm
缺陷检测能力
30+ 种
标准产能
1200 PCS/H
设备尺寸
1150*1700*1800mm
产品兼容范围
水墨屏 1-7.6寸 (广泛兼容LCD、OLED)
探针使用寿命
30 万次
