核心飞针测试矩阵 · 旗舰产品
BJ-8P
双面八针并行测试系统
测试效率提升
+200%
相比于传统针床
探针微缩极限
1/3
相当于头发丝直径的1/3
寿命预测准确度
>99%
探针寿命预测准确率
行业技术占位
国内唯一
中国唯一实现该精度
Hardware Architecture
核心技术架构
以极端的机械精度支撑复杂的测试逻辑，BJ-8P 在双面协同探测与微型化兼容性上达到了新的工业标杆。
双面8针并行测试
创新上4+下4探针架构，实现真正意义上的双面同步探测，最佳化测试节拍，消灭翻板二次误差。
30μm焊盘定位精度
搭载闭环光学反馈与微步进控制算法，焊盘定位精度高达30μm，满足高密度电路板苛刻要求。
支持008004微型器件
完美支持 008004 等极微型元器件的精准触测，适应 3C 及半导体行业微型化发展趋势。
AI自校准系统
内置 AI 视觉校准中枢，消除长时间运行的热漂移与机械误差。结合专家系统，保障极高可用率。
系统架构特点
01
双面八针设计（上4+下4），最佳测试效率
02
极高的测试精度
(最小支持008004器件)
03
支持高精度的遍历性测试
04
支持静态LCRD测试
05
支持自动上电、V/I、通讯、RF等测试
06
支持Debug卡测试
07
支持仪器仪表的集成
08
定制化维修策略及维修专家系统集成
全场景测试覆盖
15项核心检测能力，构建完整品质防御屏障
BJ-8P 核心规格参数
应用场景
NPI/辅助生产/维修
探针位置
双面
探针数量
8（上4+下4）
最大可测PCB尺寸
640*600mm
设备尺寸
1900*1550*1950mm
