BJ-6P
双面六针并行测试系统
核心商业优势
最佳性价比
均衡极限性能与采购成本
极限器件支持
008004
极高的微型化测试精度
物理探针架构
6针
上4 + 下2 协同探测技术
维修策略中枢
专家系统
提供定制化维修策略支持
Hardware Architecture
核心技术架构
BJ-6P 采用上4+下2经典设计,在保障高精度探测与全面测试覆盖的同时,为您提供极具竞争力的投资回报率。
上4+下2双面探测
创新双面六针设计,完美适配复杂双面板测试需求,在测试效率与设备成本间达成绝佳平衡,实现最佳性价比。
极高测试精度
搭载精密传动与定位控制算法,最高支持 008004 等极微型元器件的触测,全面满足现代高密度 PCBA 制造要求。
全域功能扩展
深度支持高精度遍历性测试、静态 LCRD 测试,并可无缝进行自动上电、V/I、通讯、RF 等全方位测试扩展。
专家系统赋能
设备内部深度融合维修专家系统,提供定制化维修策略,通过数据积累与智能指引,大幅提升产线故障定位效率。
系统架构特点
双面六针设计(上4+下2),最佳性价比
极高的测试精度
(最小支持008004器件)
支持高精度的遍历性测试
支持静态LCRD测试
支持自动上电、V/I、通讯、RF等测试
支持Debug卡测试
支持仪器仪表的集成
定制化维修策略及维修专家系统集成
全场景测试覆盖
全面覆盖15项核心检测能力,构建完整品质防御屏障
